X荧光光谱仪(RoHS检测仪器)由激发源(X射线管)、高压电源、探测系统构成。X射线管产生入射X射线(一次X射线),激发被测样品,产生X荧光(二次X射线),探测器对X荧光进行检测。
工作原理
X光管发射的X射线,经过滤光片后,X射线的背景射线被滤光片吸收而减弱,然后经准直器变成平行光束,照射在样品上.样品受到激发,随即产生含有被测元素的特征X射线荧光的复合光束.再经过准直器的准直进入半导体探测器,探测器本身具有能量分辨能力,可以甄别样品所有发射的不同能量特征的X射线荧光,探测器输出的信号经放大器的放大后进入运算装置,由于探测器输出的信号与入射的X射线荧光的能力成正比,因此可以得到定性、定量分析的能量谱图。
X射线荧光光谱仪有两种基本类型:
波长色散型(WD-XRF)和能量色散型(ED-XRF)
波长色散型(WD-XRF)
元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁,同时发射出具有一定特殊性波长的X射线,根据莫斯莱定律,荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关,其数学关系如下:
λ=K(Z− s)−2
式中K和S是常数。
能量色散型(ED-XRF)
元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁,产生能量差
X ray
△E= E1–E0=Kα
因此,只要测出荧光X射线的波长或者能量,就可以知道元素的种类,这就是荧光X射线定性分析的基础。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系,据此,可以进行元素定量分析。